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HONEYWELL 900P01-0001

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更新: 2021-12-19
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厦门阿米控技术有限公司

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自上世纪50年代以来,随着微电子技术、通信技术及计算机网络技术的发展和大规模集成电路的广泛应用,电子设备数字电路故障维修越来越复杂,测试难度越来越大。与此同时,数字电路的测试与诊断研究也取得了突破性的进展,属于组合电路测试生成算法的伪穷举法、布尔差分法、特征分析法、随机测试法、D前沿敏化法以及因果函数法,属于时序电路测试生成算法的时间帧展开方法和基于仿真的方法等,使数字系统的诊断理论趋于完善。但数字电路故障诊断的计算工作复杂,测试开销巨大,在工程实践中仍存在很多困难。因此,如何利用这些理论和测试方法更好更快地进行故障诊断,是目前亟待解决的问题。自动测试设备(ATE)的发展是测试技术的一次革命,带来了测试设备的成熟,为测试诊断理论在工程应用上提供了新的前景。

  航天测控公司针对数字电路自动测试系统的开发需求,数字电路中较为复杂的时序电路测试为侧重点,将含有CPU、FPGA等的数字电路作为测试对象,结合目前常用的时序电路仿真方法,成功研制一套基于PXI总线技术的便携式自动测试系统(HTEDS8300便携式PXI总线数字电路板测试诊断系统)。该系统具备性价比高、体积小、易携带、TPS开发难度小等特点,适用于军用和民用领域的半导体、航天/国防、通讯才消费电子产品的设计验证、测试和维修。下面具体介绍HTEDS8300便携式PXI总线数字电路板测试诊断系统的软硬件组成和特点,并应用该系统实现对含有CPU的数字电路板的自动测试。

部分型号

DRUE2400SPAR 

VACON NXS00075A5H1SSSA1A3000000

Sick 30-FGS FGSE1200-22 

Festo DGSL-25-80-P1A

Allen Bradley VPL-B1003T-PK12AA

1115-403-1-00 

090S-MF1-10-0G1-3S

SEW MDX61B0022-5A3-4-00 

Allen Bradley 2094-BM01-M 

Parker ACM2n0220-4/1-3 

CMMSSTC87G2 

Telemecanique TSX17 TSX 172 4012 

MC07B0030-5A3-4-00 / FSC11B

Sick WEU26/3-103A00 

Sick M40Z-025023RB0

Siemens 3VL9400-3MQ00 

Euchner MGB-L1-APA-AA6A1-S3-R-110585

Festo VTSA-F-FB 547965 Ventilinsel + CPX-M-FB34 548751

Festo SLT-20-50-P-A 

Siemens VL400 3VL4740-2AA36-0AA0 

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